透過照明と反射照明を組み合わせ、従来のA.O.I.装置では難しかった高精度な検査を実現しました。
ウェハやマスクの外観検査、フレキシブルプリント基板などの回路検査、ガラス面検査を行う外観検査装置をご紹介します。
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透過照明と反射照明を組み合わせ、従来のA.O.I.装置では難しかった高精度な検査を実現しました。 |
露光装置用レチクルのレチクル上面および、ペリクル下面に付着した異物を短時間に検査します。 |
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規格化されたパーツユニットを、目的に応じてコンポーネントできる照射装置です。 |