공동 실험 및 시범용 기기 가이드

빛 관련 협력
우시오는 제품 구매를 고려하는 고객에게 공동 실험시스템/공간을 제공합니다.
당사는 공동 연구, 실험, 테스트용 샘플 제출또는 테스트 기기 제안을 환영하고 기꺼이 협의할 수 있습니다.

* 자세한 사항은 지정된 양식에 작성하여 제출하거나 전화로 문의하면 됩니다.
* 단, 원하는 실험 유형, 목적, 용도에 따라 일부 요청은 수용하지 못할 수 있습니다.

공동 실험

  • 172nm Excimer Demo System

    고 조도, 고 에너지 VUV를 이용한 다양한 프로세스 평가

    사양
    조사파장 172nm
    방사조도 170mW/cm2
    조도균일도 ±15%
    조사영역 510mm
    반송속도 150 ~ 7690mm/min (SCAN조사)
    특징
    • 종래의 Lamp에 없는 단파장/단일파장
    • 고효율: 저전력에서 빛으로의 에너지 변환 효율이 높음
    • 순시 점멸점등이 가능(Shutter불필요)
    • 설치방향이 자유자재/저온조사/대면적 조사
    • 친환경적(수은 미사용)

  • VUV Patterning System

    Excimer의 172nm특성을 이용한 신규 분야 프로세스 개발

    Process효과 이미지

    용도 :
    Patterning - 표면 친수화
    밀착력 - 표면 친수기 부여
    응용분야：
    Patterning - FPB/PCB/LCD/TSP etc.
    밀착력 - RF ID/Package/광접합 etc.

    응용사례
    • TSP Vessel
    • Organic Tr
    • BIO-CHIP

  • 광학시뮬레이션

    조사량 및 광학시뮬레이션을 통해 최적의 램프배치를 구현함으로써 고효율 및 저전력의 제품설계가 가능합니다.

  • 부대 Unit 이미지
    응용분야 및 용도/메커니즘

시험 기기

  • Analyzer 이미지

    표면처리 이후의 표면상태 및 Line/Space 측정가능

    사양
    측정방식 ALL Auto
    측정range 3 ~ 180 °
    Sample Size ∞
    Light White LED
    이미지

  • 광학현미경 이미지

    Sample Size에 관계없이 자동으로 측정가능

    사양
    Model OLYMPUS BX41
    배율 5X,10X,20X,50X
    Sample Size 6Inch
    측정기능 이미지 및 L/S측정가능
    이미지

  • Halogen Heater

    주요 용도 :
    반도체,FPD가열공정,각종 금속,재료가열
    데모 사양 :
    900[W]집광/평행타입

  • 인장강도 측정기

    주요 용도 : 표면처리 후 인장테스트
    최대 하중 :50 [Kgf]

  • Heat Plate

    주요 용도 : Sample의 표면온도에따른 표면세정력 유의차 확인
    온도 조절 : Max 400°

기타 제품에 관한 공동실험・시험기기는 본사 홈페이지를 확인 바랍니다.

당사는 제품 구매를 고려하는 실험용/시범용 기기를 제공합니다.  자세한 사항은 당사에 문의바랍니다.

* 원하는 실험 유형, 목적, 용도에 따라 일부 요청은 수용하지 못할 수 있습니다.