この論文を印刷する (2016.05) IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC) Full-Sized Panel Photodesmear for Via Residue Cleaning Masahito Namai, Akira Aiba, Hiroko Suzuki, Hiroki Horibe, Hajime Kikuiri, Masaki Miura, Kazuki Arikawa, Noritaka Takezoe, Shinichi Endo, Shintaro Yabu, and Tomoyuki Habu – Ushio, Inc. 2016年6月アメリカオーランドで開催されたECTCでの発表論文です。フルサイズ基板でフォトデスミア処理の検証結果を発表しています。 Article published for the ECTC held in June 2016 in Orlando, USA that presents testing results for full-sized panel photodesmearing. 論文はコチラ(外部サイトへジャンプします) 関連製品 1002 エキシマランプ/エキシマ光照射ユニット 関連論文 導入事例 1103 1116 論文を探す 機能・用途 露光検査改質硬化・接着測定加熱・乾燥魅せる実験獲る守る・防ぐ育てる診断治療可視化除菌・脱臭洗浄配向その他 分野・業界 MEMS・電子部品半導体液晶・ディスプレイプリント基板・PKG機能材料自動車・船舶バイオ・化学医療・美容・創薬環境・衛生農漁業・食品エネルギー映像・シネマ印刷光学セキュリティ照明 キーワード 掲載誌:ライトエッジ2017 主に2015年下半期から2016年上半期の発表物を収集・掲載しました。 (2017年08月)
Full-Sized Panel Photodesmear for Via Residue Cleaning Masahito Namai, Akira Aiba, Hiroko Suzuki, Hiroki Horibe, Hajime Kikuiri, Masaki Miura, Kazuki Arikawa, Noritaka Takezoe, Shinichi Endo, Shintaro Yabu, and Tomoyuki Habu – Ushio, Inc. 2016年6月アメリカオーランドで開催されたECTCでの発表論文です。フルサイズ基板でフォトデスミア処理の検証結果を発表しています。 Article published for the ECTC held in June 2016 in Orlando, USA that presents testing results for full-sized panel photodesmearing. 論文はコチラ(外部サイトへジャンプします)